Послуги та ресурси

Контроль якості та логістика

Ми створили повну систему перевірки Gatekeeper Inspection, яка охоплює вхідні → виробничі → готові вироби, гарантуючи, що продукти відповідають суворим вимогам до напівпровідників щодо розмірів, чистоти, стану поверхні та консистенції.

Трирівневі ворота контролю якості:

  • IQC (вхідний контроль якості):Вхідний контроль графіту, SiC та інших підкладок, включаючи щільність, вміст домішок (аналіз GDMS), розмір зерна та термічні властивості. Невідповідна сировина суворо відбраковується.
  • IPQC (In-Process Quality Control):100% моніторинг критичних розмірів під час точної обробки з ЧПУ; відстеження в режимі реального часу критичних параметрів, таких як температура в печі, тиск і потік газу під час CVD осадження.
  • OQC (вихідний контроль якості):Остаточна перевірка розмірів і геометричної точності ШМ; багатоточкове сканування товщини плівки та оцінка однорідності; чистота покриття та аналіз мікроморфології за допомогою SEM, XRD тощо. Кожне постачання супроводжується повним звітом CoA з унікальним серійним номером.

Упаковка та логістика:

  • Після професійного очищення та очищення надчистої води двошарове вакуумне/азотне пакування виконується в чистому середовищі класу 100.
  • Індивідуальні ударостійкі та вологостійкі зовнішні картонні коробки запобігають ударам або пошкодженням вологи під час міжнародних перевезень на великі відстані.
  • Кожен продукт прив’язаний до унікального коду відстеження, що підтримує відстеження даних повного життєвого циклу від партії сировини до відвантаження готової продукції.

Підтвердження довіри клієнта (надійність):

Наша система відстеження повного процесу пройшла ISO 9001:2015, а також ретельний аудит на місці всесвітньо відомих виробників напівпровідникового обладнання. Наразі ми стабільно щомісяця доставляємо високоточні компоненти з покриттям клієнтам [будь ласка, введіть кількість] по всьому світу, загальною кількістю [будь ласка, введіть кількість] штук, без жодних скарг клієнтів через пошкодження упаковки чи логістики.

Semiconductor-Grade Vacuum Packaging SOP Production Process Flow Chart

SOP для вакуумної упаковки для напівпровідників і блок-схема виробничого процесу

FAQ

1. Питання: Як вибрати між покриттям CVD SiC і покриттям CVD TaC?

▼

A:Подивіться на температуру процесу та інтенсивність корозії в газовій фазі. Якщо температура процесу нижче 1000 °C і в основному включає травлення на основі Cl₂/F₂ або звичайну епітаксію, виберітьCVD SiCдля найкращого співвідношення ціни та якості; якщо температура процесу перевищує 1200 °C і включає сильно корозійну атмосферу (наприклад, вирощування монокристалів SiC PVT), ми рекомендуємоССЗ TaC, який забезпечує чудову стійкість до температури та корозії. Ми можемо надати безкоштовний звіт з рекомендаціями щодо вибору на основі ваших конкретних параметрів процесу.

2. Питання: Чи підтримуєте ви прототипування окремого/малосерійного прототипування? Який час виконання?

▼

A:так! Для зворотного проектування прототипів,MOQ становить 1 шт. Для звичайних простих деталей, від отримання зразка до доставки відображеної частини, найшвидший час виконання становить приблизно10–15 робочих днів; для деталей, які включають складні процеси покриття, це приблизно20–25 робочих днів. Зв’яжіться з нашими інженерами для прискореної оцінки.

3. З: Що спричиняє відшарування CVD покриття на графітових частинах під час використання? Чи можна це вирішити?

▼

A:90% випадків розшарування викликані невідповідністю між коефіцієнтом теплового розширення (КТР) графітової підкладки та покриття, що призводить до втомного відшаровування під час швидкого нагрівання/охолодження. Наше рішення: спочатку точно виміряйте криву КТР вашої оригінальної деталі, потім спеціально налаштуйте щільність підкладки та температурний градієнт осадження, щоб два КТР були точно узгодженими. Міцність з’єднання можна покращити до більш ніж1,5 разипромисловий звичайний рівень.

4. З: Чи можете ви надати CoA (Сертифікат аналізу) для продуктів? Які дані він містить?

▼

A:Кожен продукт, що поставляється, стандартно поставляється з aунікальний серійний номер + повний звіт CoA. Звіт містить: дані перевірки ШМ критичних розмірів, карту розподілу товщини багатоточкового покриття, значення шорсткості поверхні (Ra) і висновки аналізу чистоти матеріалу (GDMS).

Почніть свою ексклюзивну послугу зараз

телефон: +86-18069220752(Тіна);+86-15988690905(сироватка)

Електронна пошта: anny@veteksemi.com

X
Ми використовуємо файли cookie, щоб запропонувати вам кращий досвід перегляду, аналізувати трафік сайту та персоналізувати вміст. Використовуючи цей сайт, ви погоджуєтеся на використання файлів cookie. Політика конфіденційності
Відхилятиприйняти